【最實(shí)戰(zhàn)】如何對(duì)SPC的評(píng)估結(jié)果進(jìn)行分析
在生產(chǎn)過程中,如果SPC控制圖上出現(xiàn)異常數(shù)據(jù)點(diǎn),表明工藝中存在異常原因,這時(shí)應(yīng)該及時(shí)查找原因,采取措施,將其消除,使生產(chǎn)過程恢復(fù)統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)。今天為您介紹的內(nèi)容是SPC評(píng)估結(jié)果出現(xiàn)失控情況下分析查找原因時(shí)應(yīng)考慮采取的幾點(diǎn)策略。
對(duì)SPC計(jì)量值控制圖的分析“順序”
例如均值——標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖,均值控制圖的控制限是采用各批數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值計(jì)算得出,因此只有在標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖正常情況下再分析均值控制圖的失控問題。如果均值——標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖都呈現(xiàn)失控或失控傾向,最好的策略就是先分析標(biāo)準(zhǔn)差控制圖的失控原因。在很多情形下,這將會(huì)自動(dòng)解決均值控制圖的失控問題。絕不要嘗試在標(biāo)準(zhǔn)差控制圖顯示失控時(shí)首先分析均值控制圖上表現(xiàn)的失控問題。
在查找失控原因時(shí)首先判斷是否存在“虛假數(shù)據(jù)”
有時(shí)SPC控制圖上表現(xiàn)出的失控并不是工藝過程真正出現(xiàn)了失控,而是由于控制圖上個(gè)別數(shù)據(jù)并不代表實(shí)際情況,或者是偶爾失誤引起的。在這種情況下,如果真正查找原因,并采取措施根除了這些原因,只要將相應(yīng)數(shù)據(jù)點(diǎn)去除掉即可。
關(guān)于“好”的異常和“壞”的異常
因?yàn)樯a(chǎn)狀態(tài)的異常變化往往會(huì)影響生產(chǎn)成品率或者影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,因此SPC控制圖反映的過程異常一般是不希望的“壞”的異常。但是有時(shí)也可能出現(xiàn)“好”的異常,例如微電路生產(chǎn)中的鍵合工序。如果連續(xù)出現(xiàn)幾個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)超出上控制限的情況,表明工藝過程出現(xiàn)失控,但是對(duì)于內(nèi)引線強(qiáng)度的規(guī)范要求而言,鍵合強(qiáng)度只有下規(guī)范要求,即鍵合強(qiáng)度值越大越好。
不管是哪種異常,都說明工藝過程的狀態(tài)發(fā)生了變化,均應(yīng)進(jìn)行質(zhì)量分析。
對(duì)壞的異常,應(yīng)查找原因,采取措施,將其消除。
對(duì)好的異常,應(yīng)確認(rèn)確實(shí)是好的異常,而不是虛假現(xiàn)象。然后通過質(zhì)量分析,查找出原因后,采取措施將其保持,使工藝過程進(jìn)入新的統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)。例如,對(duì)上述出現(xiàn)“好”的異常的情況,通過分析確認(rèn)是連續(xù)幾批鍵合強(qiáng)度數(shù)據(jù)超出上控制限,不是虛假現(xiàn)象。然后在分析查找原因時(shí),發(fā)現(xiàn)這幾批采用的是新批次的內(nèi)引線絲。再進(jìn)一步追查時(shí)原來是內(nèi)引線絲材料供貨方改進(jìn)了工藝,使絲的質(zhì)量水平得到了提高。查找出這一原因后,應(yīng)采取措施保證以后采用這種新的高質(zhì)量?jī)?nèi)引線絲材料。這樣鍵合工序應(yīng)該重新開始SPC分析——從“分析用控制圖”開始,進(jìn)入新的統(tǒng)計(jì)受控狀態(tài)。
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